摘要:老化速度主要取决于下列因素：绝缘所处的温度。瓦斯保护的绝缘检验。怀化麻阳苗族自治县。绕组损耗模型在高频应用时，为了减少铜损和提高电流容量绕组导体通常采用扁平状铜片，而且每层只有圈导体，这样可使电流沿导体的宽度方向分布，减少由于趋肤效应所导致[阅读全文]